冷热冲击试箱相关资料：
冷热冲击试验箱：用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在*短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。 用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具.
二、冷热冲击试验箱满足标准
国军标GJB150.3-86；国军标GJB150.4-86；国军标GJB150.5-86；
GB2423.1-89 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法
GB2423.2-89 电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法
冷热冲击试验箱技术参数：
1、温度范围：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、、-65℃～+150℃
2、温度上限：+175℃
3、温度下限：-60℃
4、温度偏差：±2℃
5、温度波动度：±0.5℃
6、温度恢复时间：5min
7、温度恢复条件：高温+150℃保温≥30min，低温-60℃保温≥30min，试品重量在规定范围内
8、试品转移时间：≤15秒
9、试品转移方式：采用气动
10、试品重量：≤3kg
11、高温室升温时间：30min (+25℃～+100℃)
12、低温室降温时间：60min (+25℃～-55℃)
13、噪音：（dB）≤65
14、电源：AC380V/50Hz+保护接地
15、总功率：20KW
冷热冲击试验箱型号及尺寸（D*W*H mm）：
| 型号 | 工作室尺寸 | 外形尺寸 |
| BE-CH-50A | 400X350X360MM | 1560X1950X1380MM |
| BE-CH-72A | 450X400X400MM | 1650X1800X1730MM |
| BE-CH-100A | 500X450X450MM | 1700X1800X1730MM |
| BE-CH-150A | 600X500X500MM | 1800X1800X2400MM |
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