Ux-300
能量色散X荧光光谱仪
（Eenergy dispersive X-ray fluorescence spectrometer）
用户 选 型 报 价手 册
中文版V1.0
X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，例如建材(水泥、玻璃 、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素如S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和痕量分析的可靠工具，在大专院校和科研单位也是常备仪器。
目 录
1.产品规格
2.仪器硬件部分.
2.1 探测器
2.2 X光管
2.3 高压电源
2.4 自适应滤光系统
2.5 微区分析系统
3.数据处理部分
4.仪器软件部分
5.防辐射部分
6.六价铬测试单元
7.欧盟标准样品
8.仪器配件清单
9．部分客户名单
10．保修及售后服务
11.增值服务
产 品 简 介
UX-300能量色散X荧光光谱仪原理
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。
K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线：由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X 射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=EK-EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Kα 射线，同样还可以产生Kβ射线 ，L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：
λ=K(Z-s)-2
这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
UX-300能量色散X荧光光谱仪特点
1.无需制样即可直接测量.
2. 所有元素可以同时测量,且短短几分钟即可完成分析,可以应付大批量待测样品.
3. 检出限低,完全可以满足WEEE和ROHS指令要求.
4. 无损分析. 分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。
5. 没有人为误差,谁操作都得到一样的结果.
6. 操作简单,可以单键完成操作.
7.分析的元素范围广，从Na到U均可测定；
8.荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；
9.分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，
10.连续测试重复性极强，测试数据稳定可靠
能量色散光谱分析仪与波长色散光谱分析仪的区别
能量色散分析仪只有一个探测器，它对测量Ｘ射线能量范围是不受限制的，而且这个探测器能同时测量到所有能量的Ｘ射线。也就是说只要激发样品的Ｘ射线的能量和强度能满足激发所测样品的条件，对一组分析的元素都能同时测量出来。一般有以下三种基本类型的探测器可用于测量Ｘ射线：密封式或流气式充气探测器、闪烁探测器、半导体探测器。
能量色散的条件是当样品被激发后产生的Ｘ射线通过窗口进入探测器探测器把Ｘ射线能量转换成电荷脉冲，每个Ｘ射线光子在探测器中生成的电荷与该光子的能量成正比。该电荷被转换成电压脉冲，当这些电压脉冲经充分放大后，被送入脉冲处理器，脉冲处理器把这些代表着各个元素的模拟信号再转换成为数字信号，由计算机进行分类，分别存入多道分析器（ＭＣＡ）的相应通道内，一般使用１０２４－２０４８道ＭＣＡ。这些通道覆盖了分析的整个能量范围。
波长色散分析仪是用多个衍射晶体分开待测样品中各元素的波长，由此对元素进行测量。晶体被安装在适当位置，以满足布拉格定律的要求。Ｘ射线荧光分析和其它光谱分析一样，也是一种相对分析。这就是说，要有一套参考标样，这些参考标样能够在可能感兴趣的范围内覆盖所测元素。首先对这些标样进行测量，记录欲分析元素的强度，建立浓度（含量）、强度（ＣＰＳ）校准曲线，存入处理数据的计算机，供以后分析同一类型未知样品时使用。*简单的校准线是直线，强度与浓度的依赖关系反映仪器的灵敏度。
另外由于校准线要在很长一段时间内使用，所以应对仪器的漂移作出调整，尽管这种漂移不大，但它确实存在。这可以通过对每个分析元素选用高、低两个参考点来实现。制备若干被称作ＳＵＳ（调整样）的特殊样品，它们含有适量的分析元素，有很好的长期稳定性。利用它们可以求出高、低强度值。
Ux-300型 X荧光光谱仪
技术规格及报价表
|
编 号
|
产 品 规 格
|
备 注
|
|
2．分析原理
|
能量色散X射线荧光分析法
|
|
|
3．分析元素
|
Na ～U任意元素, 铅（Pb）、汞（Hg）、六价铬（Cr6+）、多溴联苯（PBB）和多溴联苯醚（PBDE）中的溴，直接分析出六价铬（Cr6+）含量
|
|
|
4．工作条件
|
工作温度：10-30℃
相对湿度：≤70%
电源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz
|
|
|
5．技术指标
|
检出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm
样品形状：任意大小，任意不规则形状
样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
X射线管：靶材/Mo 管电压/5～50 kV 管电流/*大1～1000 μA
照射直径：2、5、8mm
探测器：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
滤光片：八种新型滤光片自动选择
样品定位：微动载物平台（选配）
样品观察：30倍彩色CCD摄像机
微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）软件
定量分析：理论Alpha系数法(NBS-GSC法)
数据处理：IMB PC/AT/内存/256 MB 以上/硬盘/40 GB以上系统：Windows XP正版
功率：1.1kW
重量：40Kg
外形尺寸：550(W)×450(D)×450(H)mm
|
|
|
6.标准配置和随机标准附件
|
标准配置：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器(<155eV)
X光光管(寿命>15000小时)
高压电源（RSD<0.25%）
大样品仓
高精密摄像机(130万像素)
Alpha系数法(NBS-GSC法)定量软件
计算机(方正P4品牌机，17寸液晶显示器)
打印机（爱普生彩色喷墨打印机）
测试用样品杯2个，测试用塑料薄膜数张
标 样：欧盟标样EC681一片、银校正标样一片。
|
|
|
7.提供必要的技术资料
|
1. 用户手册；使用说明书；（含操作规程和仪器故障处理），装箱清单；保密条款。
|
|
|
8.技术服务要求
|
1.技术服务要求，六价铬（Cr6+）的检测方法
2.在买方现场对操作人员进行培训，安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费。
3.设备验收后，整机保修1年。提供*有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应，48个小时内派人上门维修和排除故障。
4.终身维修，免费提供软件升级等优惠的技术支持。
|
|
|
9.设备的验收标准及验收程序
|
1. 以说明书上的性能指针和技术协议为准。
2. 在买方的实验室调试完毕、检验合格并进行试样测试。
|
|
|
10.包装及运输
|
1．卖方按公司统一包装形式对买方所购产品进行包装；
2．托运公司将产品托运至买方指定地点，运输费用及托运包装费用由卖方承担。
|
|
|
11.付款方式
|
1．合同签订后，买方须先向卖方缴付50%的预付款；
2．卖方收到预付款10天内，到买方指定地点安装仪器；
3．仪器安装完成验收合格，买方付清仪器余款
|
|
|
12.交货地点
|
买方指定地点。
|
|
|
13.交货日期
|
2007年 月 日
|
|
二、仪 器 硬 件 部 分
1、 Si(PIN)半导体制冷探测器（ 高灵敏度探测器）
晶体面积大于15平方毫米
分辨率优于 < 155eV , CPS >3000/S
全数字脉冲处理器技术
（注：检测器是分析仪器的心脏，目前市面上大致有三种类型， Si(Li)检测器液氮制冷型分辨率相当低，但是在分析是需要灌制氮气，使操作者面临低温**威胁，操作极不方便；且氮气不易购买，难保存，非常不方便。而Si(PIN)电制冷型在分辨率上与LN型相比仅稍逊一筹，但是并不影响RoHS行业的检测要求，同时由于使半导体自动制冷，为操作者带来的方便性不言而喻。而全数字脉冲型处理技术显然比模拟脉冲技术在数据处理的速度上快，从而带来分析也快。这里需要注意的是，我们很少看到厂商公布检测器的面积，显然大面积的检测器得到的光讯号更多，也就更准更快速。相比某些厂商仅公布检测器分辨率却含糊面积指数是一种有猫腻的做法，往往以次充好）
2、低功率小型X光管为激发源（寿命≥15000小时）
X光管具有更小的功耗和更高的工作电压，电子枪封装于铅内衬不锈钢管中，这种设计可对2英寸的0.25mR/hr 的射线进行屏蔽,管中装有冷却油，散热效果较好。可以用高压凹式连接器或无空气连接器和一个三轴连接器来提供灯丝。这种射线管在灯丝接地、阳极加正加的模式下工作，标准窗口是0.005英寸铍窗，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏
3、美国原装进口高压电源
稳定性：连续8小时测定 RSD < 0.25%
（注：通常EDXRF会长期开机待机，此稳定性能相当不错）
应用于RoHS 指令的分析特点
快速分析，仅需要60秒---200秒钟完成测定
（注：分析速度不比某些厂商宣传时3分钟而实际在操作培训时厂商工程师会建议10-15分钟那样长，也就是销售和技术在某些厂商来讲完全两码事，对于用户来讲，快速分析得到较准确的数据也就意味着流程更快，节约时间）
痕量检测，塑料中检出线：
原子序数 元 素 （ppm） 原子序数 元 素 （ppm）
22 Ti 3.0 47 Ag 1.2
23 V 2.0 48 Cd 1.5
24 Cr 2.0 50 Sn 2.0
25 Mn 1.5 51 Sb 4.0
26 Fe 1.0 80 Hg 3.0
27 Co 0.9 82 Pb 3.0
28 Ni 0.8 33 As 0.9
29 Cu 0.7 34 Se 1.0
30 Zn 0.7 35 Br 1.0
4、八种新型复合滤光片自动选择
自动滤除与目标峰无关X射线，降低背景对被分析元素的干扰，从而使分析结果更客观、准确。
5、微区分析系统 (选配)
采用特殊的聚焦技术将X射线聚焦至Φ33μm,提高X射线激发到样品的强度，更重要的是便于对更细微的区域进行**分析，光路系统采用正置式，可在大气压力或低真空环境下对微区及整体成份的定性定量分析，以及线、面元素的分布分析，检测极限为ppm.
三、计算机（数据处理）:
2.1 品 牌：(方正P4品牌机，17寸液晶显示器)
2.2 主 机: IBM/AT机
2.3 内 存: DDR256M以上
2.4 操作系统OS: WINDOW XP正版
2.5 硬 盘: 80G以上
四、软件部分
理论Alpha系数法原理的简单介绍：
如果不考虑任何的吸收增强效应，那么各元素或氧化物的相对荧光强度（即荧光强度与含量为100%时的荧光强度比值），就应该等于该元素或氧化物的百分含量，这是容易理解的，显而易见的一个推论是该元素的荧光强度与该元素或氧化物的浓度(含量)成正比。
但事实上，使这种正比关系并不总是成立，原因在于在荧光分析中必然存在的基体效应和吸收增强效应。简单地可以这样理解，原级射线进入样品要被衰减，衰减的幅度与基体成分有关，假定两个二元样品含有同样浓度的Fe,一个样品**成分为铅Pb,另一个样品**成分为碳C,因为Pb的质量系数系数比C大的多，进入到样品中能激发Fe的射线的量当然有很大不同,另外Fe被激发后产生的荧光X射线在传出样品的过程中也要受到衰减，同样与基体成分有关。这使得同样含量的Fe的相对荧光强度产生很大的不同，这就是荧光分析中所谓的基体效应。
另一方面的效应是二（三）次荧光效应，假设有一个二元样品，含有Fe和硅Si。其中Fe元素受原级X射线激发产生荧光特征荧光X射线，Ka线能量为6.4keV, Kb线能量为7.06keV，高于Si元素的K线的激发限1.84keV，因此Fe的荧光射线将有一部分被Si吸收并激发Si的荧光射线，称为二次荧光。这样Si的荧光强度就会由于二次荧光而增加，也称为基体增强效应。当然二次荧光还可激发其他更低原子序数的元素，形成三次荧光，不过一般比例很小。
理论Alpha系数法对基体吸收和增强效应进行了理论计算，以Alpha系数的形势表达元素之间的吸收增强效应。因为计算中要对原级射线进行积分，所以计算是要提供X射线管的靶材、Be窗厚度、出射角和管电压以及积分限，这些都对原级射线的谱密度分布有影响。另外基体吸收系数的拟合公式可以选用Heinrich公式或Leroux公式。原级射线入射样品的角度会影响到入射线的积分路径，荧光取出角会影响到出射线的积分路径，因此都要作为基本参数提供。
理论上，有了理论Alpha系数，只能计算相对荧光强度，如果再能得到各元素(或氧化物)在100%浓度下的荧光强度，即纯元素荧光强度，就可以进行定量测量了。但是一般地，基于一些限制，很难得到各种纯元素的荧光强度。通常使用多元素标样经过计算得到纯元素荧光强度。
五、X射线防护措施
1、 全封闭铅板防护
2、 双层迷宫防辐设计
3、 X射线警示灯警示标
4、 延时测试报警装置
5、 舱门开启X射线强制中断装置
6、 测试结束， X射线自动屏蔽装置
7、 进口X射线剂量仪检测
8、 X线管窗滤过片
9、 过载保护与联锁装置
六、铬测试杯及测试液(不需购买其他任何仪器)
运用本公司开发的专用软件和独特的硬件技术，无须添加任何其他仪器，即
可对六价铬进行**分析，大大节约了检测成本。
七、欧盟标准样品
标 样：欧盟标样EC681一片、银校正标样一片。
标样证书如下：
八、标准配置和随机标准附件:
标准配置：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器(<155eV)
X光光管(寿命>15000小时)
高压电源（RSD<0.25%）
大样品仓
高精密摄像机(130万像素)
Alpha系数法(NBS-GSC法)定量软件
计算机(方正P4品牌机，17寸液晶显示器)
打印机（爱普生彩色喷墨打印机）
测试用样品杯2个，测试用塑料薄膜数张
标 样：欧盟标样EC681一片、银校正标样一片。
九、部分已使用UX300客户名单
|
1
|
AOV安姆特测试机构
|
|
2
|
杭州计量院
|
|
3
|
天津三星电机有限公司（20台）
|
|
4
|
万嘉源通讯设备(深圳)有限公司
|
|
5
|
鑫茂科技（深圳）有限公司（4台）
|
|
6
|
晶辉科技（深圳）有限公司
|
|
7
|
联辉电机(惠阳)有限公司
|
|
8
|
方正科技股份有限公司
|
|
9
|
荣丰电器（深圳）有限公司
|
|
10
|
东莞祥耀塑胶制品有限公司
|
|
11
|
四川绵阳虹润电子有限公司
|
|
12
|
钜讯通电子（深圳）有限公司
|
|
13
|
深圳东维丰电子有限公司
|
|
14
|
深圳伟健塑胶有限公司
|
|
15
|
广州从化精密扳金有限公司
|
|
16
|
隆光音箱（香港）有限公司
|
|
17
|
惠州市腾晖电器有限公司
|
|
18
|
美科电器（揭西）有限公司
|
|
19
|
精能实业（深圳）有限公司
|
|
20
|
科洋数码商用机器（深圳）有限公司
|
|
|
客户众多，未能尽录，排名不分先后
|
十、产品保修说明
1、凡从本公司公司购买的设备未经拆动确属新产品制造**造成故障或损坏，均由我公司负责免费修理或提供更换损坏的零配件。
2、凡从本公司公司购买的设备自购买安装之日起（以保修证日期为准），在按照使用说明书、张贴在设备上的标签等注意事项正确使用，在保修期内无人为因素故障，保修一年。
3、对于产品外观及数量有异议，应在收到货后5个工作日内电告本公司，否则供货方视无误处理。
4、以下情况不属于免费保修范围，将按收费标准收取维修和零件费或提供免费邮购零配件的便利：
a、非我公司生产的设备，但经双方协商可以由我公司维修的；
b、安装使用过程中未按说明书规定的电源、联接方式或系统线路短路、接地**产生的静电感应、雷击、电击、电压异常、没有按规定的电源（电压、频率）等非质量因素造成损坏的；
c、购买后在安装场所跌落、搬运等过程中引起的故障及损坏；
d、因自然灾害、战争等不可抗拒的因素引起的故障及损坏；
e、因使用错误、擅自拆修、改造而引起的故障及损坏；
5、返修设备修复后，自修复之日起30日内，如在正常使用中仍有原故障问题，将免费修理，其他故障按规定收费。
6、包修期内，邮寄、运输、委托出差所修复设备相关交通费用，由我公司负责。包修期后，由用户负责。
7、系统一般故障，接甲方通知后，24小时内出发，赶现场解决问题或提出解决方案。
8、保修期后终身负责成本价有偿维护，保修范围包括所有本公司售出设备。
十一、增值服务
1、 软件终身免费升级
2、 免费培训3-5个操作人员，并颁发上岗证
3、 终身免费赠送测试薄膜
4、 RoHS相关问题免费咨询
5、 终身免费测试疑难样品
